لیست اختراعات فاطمه شهسواري


ثبت :
از
تا
اظهارنامه :
از
تا

بازنشانی
تعداد موارد یافت شده: 3
تاریخ اظهارنامه: 1392/02/12
تاریخ ثبت: 1392/02/12
خلاصه اختراع:

در اين اختراع فرايندي براي تهيه كاتاليست بر پايه تيتانيوم براي پليمريزاسيون اتيلن فراهم گرديده است. كاتاليست از تركيب كمپلكس منيزيم آلومينيوم (تركيب A) كه شامل منيزيم، هالوژن، آلومينيوم و يك گروه آلكوكسي و يا الكل با تتراكلريد تيتانيوم (تركيب B) تهيه شده است. كمپلكس منيزيم آلومينيوم (تركيب A) بوسيله واكنش تركيب منيزيم هالوژن دار و الكل با يك تركيب آلي آلومينيوم با فرمول RaAlX3-n در حضور يك حلال هيدروكربني حاصل مي¬شود. Ra گروه هيدروكربني با 1 تا 12 اتم كربن، X هيدروژن يا يك اتم هالوژن و n 1، 2 يا 3 است. بر اساس اين اختراع، كاتاليست سنتز شده براي فرآيند پليمريزاسيون اتيلن يا كوپليمريزاسيون آن با يك α-الفين داراي 3 تا 20 اتم كربن استفاده مي¬شود. كمك كاتاليست مورد استفاده يك تركيب ارگانو آلومينيم به فرمول AlR63 كه R يك راديكال آلكيل از 1 تا 16 اتم كربن مي باشد كه ترجيحاً Al (C2H5)3 است. كاتاليست سنتز شده فعاليت بسيار بالايي دارد و پليمري با توزيع وزن مولكولي باريك توليد مي¬كند. تركيب درصد عناصر كاتاليست‌هاي سنتز شده توسط آناليز عنصري اندازه گيري شد و از تست پليمريزاسيون اتيلن كاتاليست‌هاي مذكور، در حضور و عدم حضور هيدروژن براي بررسي ميزان فعاليت و پاسخ‌دهي به هيدروژن استفاده گرديد.

تاریخ اظهارنامه: 1396/04/15
مالک/مالکان: فاطمه شهسواري
تاریخ ثبت: 1396/08/30
خلاصه اختراع:

اختراع در جهت بهره‌گيري از نانولايه مس، براي رشد الماس بدون استفاده از سيدينگ اوليه الماس و در دماي و مدت زمان پايين‌تر از روش‎‌هاي معمول باعث كاهش هزينه توليد الماس مي شود. بررسي روي ضخامت‌هاي مختلف نانو لايه مسي به منظور امكان رشد اين ساختار صورت گرفت. براي ايجاد فيلم نازك مس از دستگاه لايه نشاني اسپاترينگ DC مگنترون استفاده گرديد. بسترهايي از جنس سيليكون در مدت زمان هاي مختلف داخل دستگاه قرار گرفتند تا ضخامت هاي مختلف نانومتري مس روي آنها نشست نمايد. سپس تمام نمونه ها داخل داستگاه PECVD روي كوره تحت شرايط يكسان قرار گرفتند. دماي بستر به 300 درجه سانتي‌گراد رسانيده شد و گاز متان به‌عنوان گاز حامل منبع كربن (عنصر سازنده الماس) و گاز نجيب آرگون به‌عنوان گاز رقيق كننده وارد محفظه شد. نتايج خواص و كيفيت نانوالماس رشد يافته در نمونه ها با روش پراش اشعه ايكس ( XRD) ، ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) و طيف سنجي فوتوالكترون (XPS ) اثبات و مورد بررسي قرار گرفت.

موارد یافت شده: 3